IC卡動(dòng)態(tài)彎曲雙向扭試驗(yàn)機(jī)用于檢測(cè)磁條卡，IC芯片卡，集成電路卡，等卡的彎曲和扭曲性能測(cè)試。
IC卡動(dòng)態(tài)彎曲雙向扭試驗(yàn)機(jī)簡(jiǎn)介：本儀器針對(duì)性IC卡在國(guó)標(biāo)GB/T 16649.1，國(guó)標(biāo)GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998標(biāo)準(zhǔn)等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)中的彎曲、扭矩的試驗(yàn); *符合以上標(biāo)準(zhǔn)。
IC卡動(dòng)態(tài)彎曲雙向扭試驗(yàn)機(jī)技 術(shù) 參 數(shù)
1. 型號(hào)：MX-IC
2. 扭曲度 ：±15°±1° 雙向d=86 mm
3. 正反向各15°，總扭曲角度30°
4.測(cè)試周期：1~9999次
5.測(cè)試速度：彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz
6.長(zhǎng)邊大位移量為20mm(+0.00mm,-1 mm)
7.長(zhǎng)邊小位移量為2mm±0.50mm
8.短邊大位移量為10mm(+0.00mm,-1 mm)
9.長(zhǎng)邊小位移量為1mm±0.50mm
10.電 壓：AC220V±5%
11.外形尺寸：L670 X W380 X H220
12.功 率：35W
13.儀器重量：70kg
根據(jù)客戶(hù)要求訂制：雙向扭轉(zhuǎn)大工位數(shù)：10工位
0513-81526002
0513-81526001
18851312788
